Diskussion:Rastertransmissionselektronenmikroskop

STEM = REM

ist STEM = REM !?! (nicht signierter Beitrag von 134.147.129.145 (Diskussion) 11:59, 30. Mär. 2007 (CEST))

Das Begriffschaos ist hier immens. Einfache Antwort: Nein. STEM waren im deutschsprachigen Raum nie sehr verbreitet, und mir ist kein deutsches Kürzel als Übersetzung des englischen Acronyms STEM bekannt. Naheliegend wäre RTEM. Als REM werden im Deutschen üblicherweise die "normalen" Rasterelektronenmikroskope bezeichnet, aber Obacht: Im Englischen würde man da schon wieder an "Reflection Electron Microscope" denken ... (nicht signierter Beitrag von Ufalke (Diskussion | Beiträge) 19:39, 18. Jun. 2007 (CEST))

Konvergenzwinkel u. Strahldurchmesser

der Satz "Der mit der Abnahme des Strahldurchmessers zwangsläufig zunehmende Konvergenzwinkel des Strahles (siehe Auflösungsvermögen) kann eine Verbesserung der Tiefenauflösung (also der Ortsauflösung in Strahlrichtung) ermöglichen." ist so falsch. Bei 3-Kondensorsystemem kann der Konvergenzwinkel unabhängig vom Strahldurchmesser verändert werden bzw. kann bei festem Strahlduchmesser der Konvergenzwinkel konstant gehalten werden.. --henristosch (Diskussion) 14:42, 1. Feb. 2014 (CET)

Bei Hochauflösungsabbildungen ist man im Bereich der beugungsbedingten Auflösungsgrenze. Darauf nahm ich Bezug (nicht darauf, daß während der Arbeit mit dem Mikroskop der Konvergenzwinkel geändert würde). Insofern sind Konvergenzwinkel und Strahldurchmesser nicht unabhängig voneinander: Man kann bei vorgegebener Auflösung den Konvergenzwinkel nicht beliebig verkleinern. Andererseits führt eine Vergrößerung des Konvergenzwinkels in der Regel zu erhöhten Aberrationsanteilen (da auch die Aberrationskorrektoren eben nur einen bestimmten Öffnungs- und damit Winklelbereich korrigieren können. Ich hatte auch auf Deiner persönlichen Seite Ende Januar etwas dazu geschrieben, Du bist darauf aber nicht eingegangen Ufalke (Diskussion) 20:28, 26. Mär. 2014 (CET)

Ich glaube wir meinen unterschiedliche Dinge: Ich bin vom Gerät ausgegangen, dort kann ich natürlich den Konvergenzwinkel ändern - ob sinvoll oder nicht sei dahingestellt. Wenn ich Hochauflösung haben will, liegt der optimale Konvergenzwinkel am Schnittpunkt der Kurven für die beugungsbedingten Auflösung (sinkt mit steig. Konvergenzwinkel) und der Kurve der Abberationen (steigt min steigendem Winkel). Das mir bekannte Optimum liegt bei ca. 10mrad. Um diesen aber erreichen zu können benötige ich ein 3-Kondensorsystem, bei dem dieser Winkel stabil gehalten und der Strahldurchmesser unabhängig davon optimiert wird. Mit Probekorrektoren verschiebt sich durch die Korrektur der Abberationen und auch der damit einsetzbaren größeren Kondensorblenden bis zu 30-40mrad.--henristosch (Diskussion) 15:39, 27. Mär. 2014 (CET)