Diskussion:Ellipsometrie
optisches Messverfahren
[Quelltext bearbeiten]Der Begriff optisch ist keine Beschränkung auf sichtbares Licht, sondern eine Abgrenzung gegenüber elektrischen und mechanischen Verfahren, etc. Die Anbieter beschreiben das Verfahren als optisch:
"The measured response depends on optical properties and thickness of individual materials. Thus, ellipsometry is primarily used to determine film thickness and optical constants. However, it is also applied to characterize composition, crystallinity, roughness, doping concentration, and other material properties associated with a change in optical response." (146nm to 33 microns) [1]
Der Artikel bescheibt es als Messung mit "Licht": "Ellipsometrie bestimmt die Änderung des Polarisationszustands von Licht bei Reflexion (oder Transmission) an einer Probe." Siehe z.B. auch hier: [2]
Ein Messverfahren, dass mit Licht misst, ist immer optisch und nicht z.B. elektrisch. -- Pewa 22:20, 31. Mai 2010 (CEST)
- Hinsichtlich der Abgrenzung zu elektrischen und mechanischen Verfahren ist das richtig, also bauen wir es meinertwegen wieder ein. Hinsichtlich Licht ist es stark davon abhängig was man als Licht auffasst. Das gesammte elektromagnetische Spektrum ist es sicher nicht, auch wenn man beispielweise von Mikrowellenoptik usw. redet. Überall wird die Ellipsometrie ja auch nicht eingesetzt. Wie Woollam (ein sehr guten Hersteller für Ellipsometer) angibt reicht der standardmäßige Einsatzbereich der Ellipsometerie vom UV- über VIS- bis zum FIR-Bereich (Die Wellenlängen scheinen sich aber eher an ihren Geräten zu orientieren). Meiner Ansicht nach, wird mit "optisch" in der Regel der sichtbare Bereich von elektromagnetischen Wellen bezeichnet. Fasst man aber UV und IR ebenfalls als optisch auf, dann kann man sicher auch die Ellipsometrie als optisches Messverfahren auffassen. Die Frage ist nur wo zieht man irgendwann die Grenze? Denn auch verschiedneer Messttechniken die Röntgenstrahlung (Röntgenlicht) (oder bald auch Terahertzstrahlung) nutzen passt in die von dir gegebene Abgrenzung. Und Raman- oder Infrarotspektroskopie würde ich auch nciht als optisches Messverfahrne bezeichnen. Abe rich will mich hier nicht vollständig querstellen. --Cepheiden 06:57, 1. Jun. 2010 (CEST)
- Ursprünglich war mit Licht und optisch natürlich nur der für das menschliche Auge sichtbare Bereich gemeint. Ich meine, heute wird der Bereich eher durch die verwendeten Techniken, z.B. Linsen, optische Filter, Schichten, Gitter definiert. In diesem Sinne ist es ein typisches optisches Verfahren zur Messung optischer Eigenschaften. Die Grenze im elektromagnetischen Spektrum ist natürlich fließend, irgendwo vom mittleren UV bis in den IR-Bereich. Um es eindeutig zu machen, würde ich einfach zusätzlich schon in der Einleitung den typischen und/oder maximalen Wellenlängenbereich angeben, in dem das Verfahren verwendet wird. -- Pewa 09:05, 1. Jun. 2010 (CEST) Sorry für die Leerzeile im Link, ich weiß nicht, wie das passiert ist.
- Okay --Cepheiden 09:14, 1. Jun. 2010 (CEST) P.S. kleinere Bearbeitungsfehler treten immer mal auf, dafür muss sich meiner meinung nach niemand entschuldigen
- Ursprünglich war mit Licht und optisch natürlich nur der für das menschliche Auge sichtbare Bereich gemeint. Ich meine, heute wird der Bereich eher durch die verwendeten Techniken, z.B. Linsen, optische Filter, Schichten, Gitter definiert. In diesem Sinne ist es ein typisches optisches Verfahren zur Messung optischer Eigenschaften. Die Grenze im elektromagnetischen Spektrum ist natürlich fließend, irgendwo vom mittleren UV bis in den IR-Bereich. Um es eindeutig zu machen, würde ich einfach zusätzlich schon in der Einleitung den typischen und/oder maximalen Wellenlängenbereich angeben, in dem das Verfahren verwendet wird. -- Pewa 09:05, 1. Jun. 2010 (CEST) Sorry für die Leerzeile im Link, ich weiß nicht, wie das passiert ist.
Wellenlängenbereich
[Quelltext bearbeiten]Also die VUV-Ellipsometrie geht mindestens bis 25 eV (50 nm)[1]. Allerdings braucht man dann eine entsprechende Strahlungsquelle, in dem Fall die 2m-Seya-Namioka-Strahllinie am BESSY. --Cepheiden 13:55, 1. Jun. 2010 (CEST)
- ↑ K. Wilmers, T. Wethkamp, N. Esser, C. Cobet, W. Richter, M. Cardona, V. Wagner, H. Lugauer, F. Fischer, T. Gerhard, M. Keim: Ellipsometric studies of BexZn1-xSe between 3 eV and 25 eV. In: Physical Review B. Band 59, Nr. 15, 1999, S. 10071, doi:10.1103/PhysRevB.59.10071.
- Sollte man dabei vielleicht zwischen dem Bereich kommerziell verfügbarer Geräte und Forschungsprojekten unterscheiden? -- Pewa 17:53, 1. Jun. 2010 (CEST)
- Ja, aber nicht in der Einleitung. --Cepheiden 17:57, 1. Jun. 2010 (CEST)
Dopplung entfernt ?
[Quelltext bearbeiten]Sorry, das war keine Dopplung sondern unterschiedliche Begriffe und Artikel
. Ellipsometrie In: Harry Paul (Hrsg.): . Spektrum Akademischer Verlag, 1999, ISBN 978-3-8274-0382-7 (spektrum.de).
. Ellipsometer In: [Harry Paul (Hrsg.): . Spektrum Akademischer Verlag, 1999, ISBN 978-3-8274-0382-7 (spektrum.de). --131.188.3.226 21:37, 3. Jun. 2024 (CEST)
- Ich habe es wiederhergestellt (und diese eckige Klammer entfernt). --Leorichter (Diskussion) 22:34, 3. Jun. 2024 (CEST)
falsche Abänderung bei Literaturverweis: Ellipsometrie In: Harry Paul (Hrsg.):
[Quelltext bearbeiten]- Harry Paul ist nicht der Autor des Artikels Ellipsometrie In: Harry Paul (Hrsg.): sondern Herausgeber des Lexikons, der Autor ist nicht im Artikel genannt
- das Gegenteil von gut ist gut gemeint
--131.188.3.226 22:05, 3. Jun. 2024 (CEST)
- Ich habe es abgeändert. --Leorichter (Diskussion) 22:34, 3. Jun. 2024 (CEST)
Danke Leorichter
[Quelltext bearbeiten]nochmals danke --131.188.3.226 22:22, 3. Jun. 2024 (CEST)
- Ah, tut mir leid wegen der unpassenden Änderungen! Das habe ich leider übersehen. Ich habe es korrigiert! Immer wieder gerne! : -) --Leorichter (Diskussion) 22:33, 3. Jun. 2024 (CEST)