Diskussion:Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie

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Letzter Kommentar: vor 2 Jahren von Cepheiden in Abschnitt Lemmatitel

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Lemmatitel

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Letzter Kommentar: vor 2 Jahren3 Kommentare2 Personen sind an der Diskussion beteiligt

Bitte mal einen beleg für die Übersetzung Strom-Spannungs-Mikroskopie. An der TU Dresden wird das mit Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (c-AFM) übersetzt.--Claude J (Diskussion) 10:36, 30. Aug. 2022 (CEST)Beantworten

Hallo, ja, ich kann auch keine Referenz mit dieser Bezeichnung finden. Das sollten wir in einen etabliertes deutschsprachiges Lemma abändern. --Cepheiden (Diskussion) 21:13, 30. Aug. 2022 (CEST)Beantworten

Siehe auch Christian Teichert, Sascha Kremmer: Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM). In: Handbuch der Nanoanalytik. 2005, S. 50–51 (tugraz.at [PDF]). --Cepheiden (Diskussion) 21:20, 30. Aug. 2022 (CEST)Beantworten

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