Diskussion:Rasterelektronenmikroskop

Begriffe "Rasterelektronenmikroskop" und "Sekundärelektronenmikroskop"

Versehentlich habe ich den Artikel überarbeitet, ohne mich vorher anzumelden. Hiermit bekenne ich mich zu der soeben eingegebenen Überarbeitung: Klärung der beiden Begriffe REM und SEM und Überarbeitung der Beschreibung des Prinzips des SEM (scheint mir noch etwas klarer zu sein). Kritik würde ich begrüßen. -- Brudersohn 18:20, 1. Jan 2005 (CET)

Der begriff SekundärEM halte ich für unglücklich, da er mit dem engl. SEM verwechselt wird und nicht sehr gebräuchlich ist. Die Abkürzung STEM ist allgemein bekannt für scanning transmission EM. Scanning tunneling M. kenne ich als STM. 3.1.05 Nachtrag: Jan404

Eine Verwechslung mit dem englischen SEM wäre nicht schlimm. Es kann zu Secondary Electron Microscope aufgelöst werden und besagt dann dasselbe, wie das deutsche SEM. Wenn es aber - wie es häufig der Fall ist - zu Scanning Electron Microscope aufgelöst wird, ist es nicht falscher als im Deutschen das REM für Rasterelektronenmikroskop, wenn in Wirklichkeit Sekundärelektronenmikroskop gemeint ist.
Charakteristisch für das Sekundärelektronenmikroskop ist, dass zur Bilderzeugung die Sekundärelektronen verwendet werden, im Gegensatz zum Transmissionselektronenmikroskop, bei dem die Primärelektronen zur Bilderzeugung verwendet werden. Das Verfahren der Rasterung ist zwar beim SEM notwendig, aber auch beim TEM kann gerastert werden. Die Rasterung ist also für das SEM nicht charakteristisch und sollte deshalb auch nicht für seine Bezeichnung genutzt werden. -- Brudersohn 20:41, 3. Jan 2005 (CET)

Ich denke hier werden die Betriebsmodi der Geräte vermischt. Es gibt 2 Geräte:
Gerät 1: (Betriebsspannung ca. 5-30kV) normalerweise werden dicke Proben analyisert. Der PUNKTFÖRMIGE Elektronenstrahl wird IMMER über die Probe gerastert und erzeugt verschiedene Signale die detektiert werden können.
- die erwähnten Sekundärelektronen
-Zurückgetreute primärerlektronen (BSE) Backscattered elecetrons
- Auger elekronen usw.
Die Signale werden Gemessen und als Grauwert für ein Pixel auf dem Bildschirm wiedergegeben.
Dieses Gerät ist mir als RasterEM (REM engl. SEM) bekannt und wir in der Literatur auch normalerweise so bezeichnet.

Gerät 2: (Betriebsspannung mehrere 100kV) Die elektronen werden FLÄCHIG durch die Probe (dicke ca. 100nm) geschossen. Für die ersten 3 Modi gilt das die elektronen "direkt" beobachtet werden. Sie fallen auf einen floureszierenden Schirm, der dann leuchtet-> keine elektronik nötig.Auch hier gibt es verschiedene Modi:
-Hellfeld (der ungebeugte Strahl)
-Dunkelfeld (der gebeugte Strahl)
-Beugungsmodus (hier sieht man kein direktes abbild der Probe sondern das Beugungsbild.
-HRTEM Durch Fouriertransformation wird ein Abbild der Probe erzeugt
-STEM (Scanning Transmission EM) hier wird der Strahl zu einem Punkt fokussiert, der dann über die Probe gerastert wird , z.b. zur Röntgenanlyse.
Dies ist das TransmissionsEM.

Seit kurzem gibt es es Detektoren für REMs die durch dünne Proben transmittierte elektronen detektieren können. Und so eine STEM Modus auch im REM möglich ist. Dennoch unterscheiden sich REM und TEM grundsätzlich, und man kann das REM nicht auf die Detektion von Sekundärelektronen beschränken. Mir ist diese Terminologie völlig neu, wo in der Literatur wird dies so verwendet?

Jan404

Ja, genau so ist es! Man sollte entweder nach der Betriebsweise benennen, also ob gerastert wird oder nicht, oder danach, mit welcher Art von Elektronen das Bild erzeugt wird, also ob mit den für die Bestrahlung des Objekts verwendeten und durch das Objekt beeinflussten Elektronen oder mit den durch Elektronenbestrahlung erzeugten Sekundärelektronen. Jan404 hat recht: Das sollte man nicht durcheinanderbringen. -- Brudersohn 15:16, 11. Jan 2005 (CET)

Ich habe den REM Artikel jetzt mal aufgeblasen. Da das mein erster Artikel war, bedarf er aber noch sicher einiger Verbesserungen. Der SekundärEM Artikel ist jetzt meines Erachtens überflüssig bzw. Teile davon kann man noch in den REM Artikel einbauen. Morgen will ich noch etwas über EDX schreiben.Jan404 20:06, 11. Jan 2005 (CET)

Das finde ich auch, das ist nun eine Verdoppelung der Beschreibung. Nachdem durch Abstimmung festgelegt wurde, dass "Rasterelektronenmikroskop" dasselbe ist wie "Sekundärelektronenmikroskop", muss nicht zweimal ungefähr dasselbe in dem Artikel stehen, einmal unter der einen Überschrift, einmal unter der anderen. Das verwirrt nun vollständig! --Brudersohn 18:44, 19. Jan 2005 (CET)

Soll das Doppel der Mikroskop-Beschreibung nun wirklich stehen bleiben? Wozu kann das gut sein? Ich finde es zwar nach wie vor nicht richtig, die Bezeichnungen REM und SEM für dasselbe zu verwenden, aber wenn es denn nun so sein soll, dann braucht doch nicht unter beiden Bezeichnungen dasselbe beschrieben zu werden, einmal reicht es doch! --Brudersohn 19:26, 6. Feb 2005 (CET)

Mir erscheint das seltsam: Man stellt fest, dass überwiegend die Ausdrücke Rasterelektronenmikroskop (REM) und Sekundärelektronenmikroskop (SEM) als Synonyme für dieselbe Art von Elektronenmikroskopen verwendet werden, und lehnt den von mir bevorzugten Gebrauch der beiden Bezeichnungen für verschiedene Begriffe ab. Ich stimme dem zu, dass dementsprechend der Artikel abgefasst wird, und akzeptiere, dass eine Enzyklopedie dem tatsächlichen Sprachgebrauch angepasst sein soll und nicht einem wünschenswerten (auf den man allenfalls hinweisen könnte). Aber nun das Merkwürdige: In dem Artikel wird derselbe Gerätetypyp zweimal beschrieben, einmal unter der einen Bezeichnung (REM) und einmal unter der anderen synonymen (SEM). Diese doppelte Darstellung verwirrt doch! Und keiner der Wortführer für die Version REM = SEM bringt das in Ordnung. Deshalb werde ich es nun übernehmen und die zweite, unter der Überschrift SEM gestellte Darstellung löschen. --Brudersohn 09:57, 11. Feb 2005 (CET)

Als Neuling habe ich mich einfach nicht getraut das zu löschen. Schreiben ist eine Sache aber die Arbeit von anderen zu löschen wollte ich einfach nihct. 80.129.123.13 17:59, 11. Mär 2005 (CET)

Hallo, ich wollte nur anmerken, dass ich auf eine Website gestossen bin, welche Teile der Inhalte des Beitrages 1:1 enthält. Da es sich um die Uni-Saarland handelt vermute ich nicht, dass diese den Text aus der Wikipedia kopiert hat. Vielleicht sollte also diese Website noch nachträglich referenziert werden, wenn Inhalte von dort verwendet wurden.

hier der Link: http://www.uni-saarland.de/fak7/hartmann/de/research/basics/rem/page1.htm

Präparation

Ein Anonymus hat soeben eingefügt, die zu untersuchenden Präparate würden oft mit Hilfe eines Ultramikrotoms hergestellt. Wesen des Rasterelektronenmikroskops in der hier verwendeten Definition (Sekundärelektronenmikroskop, siehe oben) ist die Abbildung von unebenen Oberflächen der Objekte. Die Herstellung eines Schnitts mit ebener Oberfläche ergäbe ein langweiliges Bild einer ebenen Platte, die ein Schnitt nun einmal ist, es ergäbe kaum Informationen über das Objekt. Deshalb ist die Präparation mit einem Ultramikrotom für ein Rasterelektronenmikroskop unüblich. Ich habe deshalb die Einfügung wieder entfernt --Brudersohn 17:20, 3. Okt 2005 (CEST)

Jein. man kann Mikrotome/Ultramikrotome durchaus nutzen. Sagen wir z.B. man will das Probeninnere sehen und schneidet daher rein. Dann kann man z.B. mittels Ätzmetoden wieder ein Oberflächenrelief bekommen was morphologieabhängig ist. Oder es geht nur allgemein um den Materialkontrast bei sehr hereogenen Materialien. Eine andere Möglichkeit ist, dass man mit dem Ultramikrotom einen dünnen Schnitt erzeugt. Wenn dieser so dunn ist, dass er kleiner als der Wechselwirkungsbereich des Elektronenstrahls mit der Probe ist, dann wird er zum großteil durchstrahlt. Aber da der Wechselwirkungsbereich aus dem Elektronen austreten können verkleinert wurde, steigt das Auflösungsvermögen des REM (findet ehr bei Rückstreubildern bzw. den entsprechenden Verfahren zur Analyse der freigesetzten Röntgenstrahlung Anwendung)--Shinji311 (Diskussion) 15:00, 31. Aug. 2013 (CEST)

EDX-Analyse

Ich habe am 30.05. (wie man unschwer sieht) die EDX hinzugefügt, da diese am REM recht häufig zum Einsatz kommt, wenn es kein Mikroskop ist, was nur zum Bilder machen da ist. Ist eigentlich immer essentiell. Bei Unklarheiten Meldung an mich! (nicht signierter Beitrag von RobertMinFG (Diskussion | Beiträge) )

Vergrößerung (kleine Änderung)

Is zwar nur ne Kleinigkeit, aber ich glaube die maximal mögliche Vergrößerung liegt zurzeit ungefähr bei 1.000.000:1 und nicht bei 500.000:1, habe entsprechende Literatur angehängt. Kann mich natürlich auch irren, ggf. einfach wieder rückgängig machen.. --Meko 20:41, 3. Okt 2006 (CEST)

Vergrößerung

verschoben von unten, da gleiches Thema --arilou (Diskussion) 09:31, 2. Sep. 2013 (CEST)

Ist die Angabe der Vergrößerung nicht irreführend? Vergrößern kann ich im Prinzip beliebig, kommt nur darauf an, wie groß meine Leinwand ist. Wenn ich mein mikroskopisches Bild auf eine Kinoleinwand projeziere, kann ich eine 100-mal größere Vergrößerung erreichen als am Computerbildschirm, habe aber natürlich keinen Informationsgewinn. Die Angabe der erreichbaren Auflösung ist die einzige brauchbare Information, wenn etwa Licht- und Elektronenmikroskope verglichen werden. Vergleiche Vergrößerung (Optik). --Polis Tyrol 13:20, 30. Nov. 2011 (CET)

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Bitte auf Angaben der Vergrößerung verzichten. Die Vergrößerung ist das Verhältnis zwischen beobachteter Probengröße und Bildgröße. Die Bildgröße hängt alerdings davon ab, wie groß der Bildschrim ist auf dem man das REM-Bild betrachtet/wie groß der belichtete Film ist. Sagen wir z.B. man schaut sich einen 1 µm breiten Bereich mit dem REM an. Stellt man das Bild auf einem 5 cm breitem Handydisplay dar, so ist die Vergrößerung 50 000:1. Projeziert man es jedoch mit einem entsprechendem HD-Beamer auf eine Hauswand von 20 m, dann ist die Vergrößerung 20 000 000:1. Daher bitte auf die Angabe der Vergrößerung verzichten. Einzig sinnvoll währe es, die Größe der kleinsten noch auflösbare Struktur zu nennen. --Shinji311 (Diskussion) 15:12, 31. Aug. 2013 (CEST)

Aber. Normale Labor-Lichtmikroskope mit Occular haben durchaus Angaben zu einem Vergrößerungsfaktor, der sie halbwegs untereinander vergleichbar macht. Unter der Annahme, dass das REM-Bild für Ansicht durch ein Occular aufbereitet wird, könnte man für die WP:OmA durchaus einen "Vergleichswert" angeben. Also ganz unsinnig ist so eine Angabe auch wieder nicht... --arilou (Diskussion) 09:28, 2. Sep. 2013 (CEST)

Korntast vs Kontrast

"Daneben gibt es weitere Korntastmechanismen, wie Kantenkontrast,..." Aus dem weitern Verlauf des Satzes würde ich schließen, dass es hier wahrscheinlich Kontrastmechanismen anstatt "Korntastmechanismen" heißen sollte. Da ich aber kein Experte auf dem Gebiet bin, frage ich lieber mal nach.

Bild

Ich finde das Bild vom WTC-Anschlag in diesem Beitrag unpassend (politische Aggitation).

Beiträge bitte signieren ;) Ich weiß nicht was daran politisch sein sollte, es ist ein Public Domain Bild einer REM-Aufnahme und damit, finde ich, für den Artikel passend genug. mE wird da keine politische Aussage gemacht (wie man das Bild jetzt deutet ist was anderes, aber auch nur Tatsache). --De Mike 333 18:05, 12. Okt. 2007 (CEST)

Kosten

So ein Gerät ist sicherlich nicht billig. Was kostet das denn grob? --89.244.176.223 20:00, 13. Jan. 2008 (CET)

Bei Ebay kostet dich ein altes so um die 5000€ ... ein seeehr altes.

Neue Generationen mit SE, BSE, InLens, EDX ... liegen, je nach Ausstattung sehr unterschiedlich, so ca. bei 120.000€ - 250.000€ ... nach oben hin aber offen. Wenn man mehr finanzielle Mittel hat, kann es, auch wieder Ausstattungsbedingt, noch sehr viel teurer werden. 141.6.201.14 14:11, 10. Apr. 2008 (CEST)

Rückstreuelektronenkontrast

"Das Volumen, in dem es zu derartigen Interaktionen kommt, hängt neben dem Material der untersuchten Probe (Ordnungszahl) stark von der Beschleunigungsspannung ab. Bei 20 kV liegt es bei etwa 1 μm - daher haben BSE-Bilder eine schlechtere Auflösung"

Kann das jemand präzisieren? Dieser 1µm ist schon mal kein Volumen. Ist das die absolute Eindringtiefe oder nur der Bereich aus denen noch Rückstreuelektronen herauskommen? Und außerdem ist die Nennung einer Zahl hier überhaupt direkt möglich? immerhin ist die Größe des Wechselwirkungsvolumens sehr stark von der Ordnungszahl abhängig.

Ich habe das mit dem Volumen mal ein wenig korrekter formuliert und werde es bei Gelegenheit noch ausbauen.

-- Inlandsgeheimdienst (Diskussion) 08:57, 25. Dez. 2018 (CET)

_________ (nicht signierter Beitrag von Shinji311 (Diskussion | Beiträge) 16:29, 23. Feb. 2011 (CET))

Im Artikel steht: "Inzwischen gibt es auch technische Lösungen (Elektronenoptik, Detektor) dafür, dass Rückstreukontrast bei sehr kleinen Beschleunigungsspannungen (1 keV und darunter) zur Abbildung benutzt werden kann. Damit ist es zum Beispiel möglich, verschiedene Kunststoffe in Polymergemischen zu identifizieren."

1. Bitte den letzten Satz durch Quellen oder Beispiele belegen! Sonst sollte man diesen löschen.

2. Hat jemand Erfahrung mit BSE-Bildern unter 1kV? Sind diese mit normalen Materialkontrastbildern vergleichbar? Wo gibt es mehr Infos darüber?--Salino01 21:14, 15. Jul. 2008 (CEST)

10 Minuten Zeit

Ich bitte alle Fachfrauen und -männer sich 10 Minuten Zeit für diese Tabelle zu nehmen.

• Die Tabelle soll einen umfassenden Überblick über alle Bildgebenden Verfahren aus den Fachbereichen Medizin, Fotografie, Analytik, Messtechnik usw. geben.
• In der Tabelle erscheinen nur Stichworte (daher kann das von jedem schnell erledigt werden).
• Da es sich um eine große Bandbreite interdisziplinärer Methoden handelt, ist das von niemanden allein zu schaffen.
• Um die sachliche Richtigkeit zu wahren, müssen vorhandene Einträge (ggfl.) korrigiert werden.

Also: wem eine Ergänzung einfällt, wer weitere Stichworte parat hat, wer jemand kennt, der jemand kennt ...
... verschenkt bitte 10 Minuten eurer Zeit!

Vielen Dank im voraus für eure Hilfe! -- Friedrich Graf 20:13, 24. Jan. 2009 (CET)

ESEM - Auflösung ist nicht verloren

en:ESEM Esem0

Beschleunigungsspannung

Hi, ist mir zu umstaendlich, mich anzumelden, aber wenn man von BeschleunigungsSPANNUNG spricht, sollte man diese nicht in keV sondern kV angeben. Ausserdem habe ich zwischen 500 und nm das gaengigerweise uebliche Leerzeichen eingefuegt. Rutscht dadurch leider in die naechste Zeile. Loesungen bitte direkt angeben. - Andi, 16.11.2009 (nicht signierter Beitrag von 91.9.40.86 (Diskussion | Beiträge) 11:22, 16. Nov. 2009 (CET))

Hi IP 91.9.40.86 alias "Andi", deine Änderung von "Elektronenvolt" in "Volt" (KeV in KV) wurde rückgängig gemacht. Gruß --Gerhardvalentin 14:12, 16. Nov. 2009 (CET)

Beitrag zu neuer Überschrift verschoben, um Übersichtlichkeit zu bewahren.--Salino01 21:18, 16. Nov. 2009 (CET)

Ich muss da zustimmen: "1 µm" ist kein Volumen, sondern eine Strecke, und keV ist eine Energie, keine Spannung. Und jetzt wird's geändert.

Sorry, war nicht eingeloggt --arilou 16:33, 23. Mai 2011 (CEST)

STEM

In der Einleitung steht der Satz: Eine rasternde Abbildung läßt sich auch in Transmission durchführen (engl. STEM für Scanning Transmission Electr. Microscopy), hierfür sind aber entsprechend ausgerüstete Transmissionselektronenmikroskope oder dedizierte Rastertransmissionselektronenmikroskope besser geeignet. Mir ist nicht klar, was das Wörtchen aber darin bedeutet. Es ist doch selbstverständlich, dass man entsprechend ausgerüstete Mikroskope verwenden muss, wenn man rastern will. Auch die Bedeutung des Worts besser verstehe ich nicht. Besser als was? Ein Rasterelektronenmikroskop kann ja wohl nicht gemeint sein, denn ein Elektronenmikroskop mit dem man rastern kann, ist nach der einleitenden Definition ein Rasterelektronenmikroskop. Aber worauf bezieht sich dann das Wort besser? -- Brudersohn 18:57, 28. Okt. 2011 (CEST)

Manfred von Ardenne (Geschichte)

Das Rasterelektronenmikroskop wurde 1937 von Manfred von Ardenne erfunden. Er entwickelte und baute das erste hochauflösende Rasterelektronenmikroskop mit starker Vergrößerung und Abtastung eines sehr kleinen Rasters (Seitenlänge 10 µm; Auflösung in Zeilenrichtung 10 nm) mit einem zweistufig verkleinerten und feinfokussierten Elektronenstrahl (Sondendurchmesser 10 nm). Von Ardenne verwandte das Abtastprinzip nicht nur, um einen weiteren Weg in der Elektronenmikroskopie zu eröffnen, sondern auch gezielt, um den chromatischen Fehler zu eliminieren, der Elektronenmikroskopen inhärent ist. Er beschrieb und diskutierte in seinen Publikationen die theoretischen Grundlagen des Rasterelektronenmikroskops sowie die verschiedenen Detektionsmethoden und teilte seine praktische Ausführung mit. Weitere Arbeiten kamen von der Zworykin-Gruppe (1942), später von den Cambridge-Gruppen in den 1950er Jahren und Anfang der 1960er Jahre unter der Leitung von Charles Oatley. Alle diese Arbeiten führten schließlich zur Vermarktung des ersten kommerziellen Rasterelektronenmikroskops „Stereoscan“ (1965) durch Cambridge Scientific Instrument Company. Ein Bericht über die frühe Geschichte der SEM wurde von McMullan verfaßt.--Esem0 (Diskussion) 01:09, 27. Nov. 2012 (CET)

Ähm, ja? Und was soll dieser Abschnitt nun hier in der Diskussion?

--arilou (Diskussion) 09:08, 27. Nov. 2012 (CET)

Anwendungsbeispiele?

Mir als Laien wäre sehr geholfen mit ein paar Anwendungsszenarien. Wozu werden Rasterelektronenmikroskope eingesetzt? Medizin? Materialprüfung? --knOFF 00:24, 27. Jan. 2016 (CET)