Nanometrologie
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Die dimensionelle Nanometrologie (von: altgriech. νᾶνος [nános] „Zwerg“ sowie griech.: μέτρον métron „Maß, -messer“) ist die Wissenschaft und Anwendung von Messungen der Dimensionen von Objekteigenschaften, Abständen und Verschiebungen im Bereich 1 bis 1000 nm[1]. Mit einer sich entwickelnden Nanotechnologie entsteht ebenfalls der Bedarf nach einer Qualitätssicherung in der Nanometer-Dimension. Metrologische Methoden und Techniken sind aufgrund von physikalischen Skaleneffekten nicht ohne weiteres aus der „Makro“-Dimension übertragbar. Die Nanometrologie ist ein Gebiet aktueller Forschung.
Einzelnachweise
[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]- ↑ Harald Bosse, Günter Wilkening: Dimensionelle Nanometrologie in der PTB – eine Übersicht. In: Technisches Messen. Band 73, Nr. 1, 2006, S. 4–18, doi:10.1524/teme.2006.73.1.4.
Weblinks
[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]- Übersichtsartikel: Quantitative Mikroskopie und dimensionale Nanometrologie. ptb.de (Literatursammlung dt./en.)
- Homepage des Labors für Nanometrologie: Laboratory for Emerging Nanometrology - LENA. TU Braunschweig.
- Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (Hrsg.): Arbeits- und Forschungsprogramm 2015 – 2017. April 2015, S. 56 ff. (ptb.de).
- Nanometrologie. In: Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (Hrsg.): PTB-Mitteilungen. Band 121, Nr. 2, Juni 2011 (ptb.de [PDF; 7,6 MB]).